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如何有效消除原子吸收分析中的干扰

Date: 2020-10-23 8:40:54 * 浏览: 102

虽然原子吸收分析中的干扰比较少,并且容易克服,但在许多情况下是不容忽视的。为了得到正确的分析结果,了解干扰的来源和消除是非常重要的。其中,FAAS 中干扰因素比较小, 没有 GFAAS 法中的干扰严重, 而且也容易克服。

但在许多情况下也要引起重视, 有些干扰因素也较麻烦。为了得到正确、 满意的分析结果, 我们了解这些干扰的来源及其消除方法是非常重要的。

  

FAAS 中的干扰归纳起来以下几点:


1. 化学干扰; 2. 电离干扰 ;3.背景吸收干扰;4. 光谱干扰; 5. 物理干扰 ;6 其他干扰。

 

化学干扰


化学干扰的本质:它主要取决于被测元素和干扰元素的性质。其次, 还与火焰类型、火焰温度、火焰状态、部位、喷雾器的性能、燃烧器的类型、雾滴的大小等等有关…

 

 

化学干扰的主要类型


1.阳离子干扰:在测定 Ca, Mg 时, 常受到 Al 的干扰, 还有钛、铬、铍、钼、钨、钒锆等都对碱土金属有抑制作用 (镁、钙、锶、钡等)。主要是一些阳离子与被测元素形成难熔化合物。 如: Al 对 Mg 的干扰, 主要是形成 MgO 与 Al2O3 生成尖金石, 使 Mg 的原子化受到干扰。


2.阴离子干扰:在测定 Ca 时, 如样品中含有硫酸盐、 磷酸盐、 硅酸盐时会对碱土金属有的干扰, 主要形成难熔氧化物;使它们的熔点提高。如氯化钙的熔点较低, 磷酸钙的熔点高, 所以在分析中要引起注意的。

 

消除化学干扰的方法


1.加入释放剂: 释放剂与干扰离子形成更稳定或更易挥发的化合物, 从而达到被测元素从干扰元素中释放出来的目的。在测定钙时, 遇到干扰大的样品, 要加改进剂 Lacl2、 Srcl2, 使钙原子从干扰元素中释放出来, 提高了分析的准确度。


2.加入保护剂:保护剂能与测定元素结合, 生成难挥发的化合物。 使测定元素起到”保护”作用, 而不受干扰元素的影响。保护剂的目的使测定元素更容易原子化。


3.加入助溶剂:氯化铵可以抑制 Al、硅酸根、磷酸根、硫酸根的干扰。氯化铵有助于铬、钼的测定。

① 氯化铵熔点低,对高熔点的元素起助熔作用。

② 氯化铵的蒸汽压高,在数千度高温下氯化铵的蒸汽可冲破雾滴有利熔融蒸发。

③ 氯化铵能使测定元素转变成氯化物,这样可以排除干扰,提高灵敏度。


4.改变介质、溶剂或改善喷雾器的性能:测定时改变测定介质,能消除干扰,提高灵敏度。如测定铬时,溶液中加酸时,可提高灵敏度,测定铌时,加入 HF 酸可提高灵敏度。此外,加入醇类、酮类等有机溶剂后,可改变火焰温度和气氛,使溶液的粘度、表面张力有显著改变,有利提高喷雾效率。


5.化学分离:化学分离也能排除干扰的方法。常用的分离方法:萃取,离子交换和沉淀法等,同时也起到浓缩作用。按分析特点,有 APDC, DDTC, MIBK 等,都可以达到分离,连续测定多种元素的目的(缺点:测定痕量元素时试剂环境带来污染,影响测定结果)


6.标准加入法:对一些复杂,干扰因素不清的样品,要采用标准加入法。但它有一定的局限性,只能消除“与浓度无关的化学干扰” ,而与“与浓度有关的化学干扰”不能得到满意的结果。

表 1. 标准加入法测定不同稀释倍数样品的结果

( 干扰元素:钛 磷 40μg/ml 测定元素:钙 10μg /ml )

 

由表1. 可见, 标准加入法测定不同稀释倍数样品时, 测定结果基本一致 , 标准加入法能排除这种与浓度无关的化学干扰。

 

电离干扰


一些元素受电离作用后,使原子吸收的基态原子减少,从而吸光度下降。如加一些元素,使电离元素转回到基态原子,排除了电离干扰,使吸光度增加。若在分析钾时加入易电离的钠,铯后,钾的吸光度明显提高。

 

消除电离干扰的方法


1.影响电离干扰的主要因素是:元素在火焰中的电离度,火焰温度,该元素的电离电位,及总浓度有关。火焰温度越高,电离度越大, 电离干扰小。

电离度定义: 已电离的金属正离子浓度与该金属元素的总浓度之比,

即: α=[M+] /[M]+ [M+]。


2.消除电离干扰的办法:如果火焰中提供大量的自由电子(e-) ,及其他易电离的元素时(Na,Cs), 这样能抑制电离干扰,换句话说,当离子得到电子后,使电离平衡向生成基态原子方向移动(见上图) 。图中当加入 Na, Cs后都使钾的灵敏度提高, 排除了电离干扰。


背景吸收干扰


FAAS 的背景干扰主要有以下几种:1. 分子吸收 2. 光散射 3. 火焰气体的吸收和介质中无机酸的吸收。

这两种原子化过程中的背景吸收都具有明显的波长特性,有两种表现方式:一种是连续背景(分子吸收和光散射) ,另一种是随波长而明显变化的结构背景,它主要由分子内部电子跃迁所产生。


1.分子吸收

当光源辐射通过原子化过程中生成的氧化物,卤化物,氯化物等气体时,会产生分子吸收所引起的干扰。它们通过分子能级的电子振动,转动光谱所组成的带状光谱。不同分子具有不同的吸收带。如CaOH(554nm), SrO(670nm,690nm), 在火焰中可以测得不同的背景吸收曲线,不同波长的背景吸收曲线不同,随波长的不同而有很大的差异,所以具有明显的波长特性。

FAAS 中分子吸收取决于该分子是否在火焰中的解离和解离度。如低温火焰中测定容易原子化的元素时,也存在与火焰气体生成难解离的氧化物,氯化物等。在高温下(还原性火焰) ,分子数明显下降,灵敏度提高。所以 FAAS 中背景干扰较少,采用氘灯扣背景就够了。


2.光散射

光散射背景是指原子化过程中产生的固体微粒对光源辐射光的散射而形成的假吸收。 当基体浓度过大而热量又不足的情况下, 不能使基体物质全部蒸发, 存在固体微粒, 这样产生光散射引起的背景干扰。


3.火焰气体吸收

FAAS 还存在火焰气体的吸收及溶液介质中各种酸引起的分子吸收,这种干扰在紫外段较大。因此在测定紫外段区元素时采用氩-氢气,空-氢气火焰较好,也可以用空白液调零来消除干扰。

FAAS 法中,火焰稳定,时间长,主要以氘灯扣背景较好,在校正背景时要满足以下三点:

① 必须在分析线同一波长处测量背景

② 测定原子吸收信号时同时测定背景吸收信号

③ 要求两个光束完全重叠。


光谱干扰